大型冷熱溫控試驗(yàn)箱 老化箱
適用于航空航天、電工電子、儀器儀表、材料設(shè)備、零部配件等模擬試件在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)及對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選等，同時可通過此試驗(yàn)，進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。

大型冷熱溫控試驗(yàn)箱 老化箱

型號：THC-020PF
容積：1200L
內(nèi)箱尺寸：W1200*D1200*H1500，
外箱尺寸：W1450*D2250*H2030
1.溫度范圍：0℃～150℃
2.濕度范圍：20%～98%R.H　　
3.溫度均勻度：≤2℃ （空載時）
4.濕度均勻度：3%R.H（空載時）
5.溫度波動度：≤±0.5℃ （空載時）
6.濕度波動度：±2%
7.溫度偏差：≤±2℃ 
8.濕度偏差：≤±3%（空載時）
9.降溫速率：1℃/min
10.升溫速率：5℃/min 
11.時間設(shè)定范圍：0～999 小時h 
12.電源電壓：380V±10%  

大型冷熱溫控試驗(yàn)箱 老化箱

滿足標(biāo)準(zhǔn)及試驗(yàn)方法

GB11158-2008高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10589-2008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件（溫度交變）

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫(IEC60068-2-1:2007)

GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫(IEC60068-2-1:2007)

GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化(IEC60068-2-14)

GJB150.3A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：高溫試驗(yàn)

GJB150.4A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：低溫試驗(yàn)

GJB150.5-1986溫度沖擊試