HAST非飽和老化測(cè)試箱是一種用于評(píng)估電子元器件、半導(dǎo)體封裝及高分子材料在高溫、高濕、高壓環(huán)境下可靠性的測(cè)試設(shè)備。與傳統(tǒng)飽和型HAST不同，非飽和技術(shù)通過精確控制蒸汽壓力與溫度，避免測(cè)試過程中產(chǎn)生凝露，從而更真實(shí)地模擬實(shí)際使用環(huán)境，同時(shí)防止產(chǎn)品因水滴附著而發(fā)生短路或物理?yè)p傷。

HAST非飽和老化測(cè)試箱生產(chǎn)廠家廣東皓天檢測(cè)儀器有限公司擁有專業(yè)的生產(chǎn)研發(fā)技術(shù)，一站式周到服務(wù)。作為一家專注于試驗(yàn)設(shè)備產(chǎn)品的大型儀器制造商，皓天設(shè)備致力于為消費(fèi)者提供技術(shù)、品質(zhì)的優(yōu)秀產(chǎn)品。

產(chǎn)品詳情

非飽和老化測(cè)試箱，全稱高加速非飽和蒸汽應(yīng)力試驗(yàn)箱，是一種用于評(píng)估電子元器件、半導(dǎo)體封裝及高分子材料在高溫、高濕、高壓環(huán)境下可靠性的測(cè)試設(shè)備。與傳統(tǒng)飽和型HAST不同，非飽和技術(shù)通過精確控制蒸汽壓力與溫度，避免測(cè)試過程中產(chǎn)生凝露，從而更真實(shí)地模擬實(shí)際使用環(huán)境，同時(shí)防止產(chǎn)品因水滴附著而發(fā)生短路或物理?yè)p傷。

設(shè)備內(nèi)膽采用優(yōu)質(zhì)SUS316L不銹鋼，耐腐蝕性強(qiáng)；門體配備防爆安全鎖與多重壓力保護(hù)系統(tǒng)，確保長(zhǎng)時(shí)間高壓測(cè)試的安全性。控制系統(tǒng)采用7英寸彩色觸摸屏與可編程邏輯控制器，支持多段溫濕度曲線設(shè)定及實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)記錄。

HAST非飽和老化測(cè)試箱

用途

本設(shè)備主要用于評(píng)估IC封裝、MEMS傳感器、LED、PCB板及光伏組件等在高溫高濕高壓條件下的耐候性與壽命。通過加速環(huán)境應(yīng)力，幫助制造商快速發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品潛在的失效模式，如分層、腐蝕、電化學(xué)遷移及密封失效等。

技術(shù)參數(shù)

• 溫度范圍：+105℃ ~ +142.9℃

• 濕度范圍：75%RH ~ 98%RH（非飽和狀態(tài)）

• 壓力范圍：0.2kg/cm2 ~ 3.0kg/cm2

• 溫濕度均勻度：±0.5℃ / ±3%RH

• 內(nèi)箱材質(zhì)：SUS316L鏡面不銹鋼

• 控制系統(tǒng)：PLC + 7英寸HMI彩色觸摸屏

• 安全保護(hù)：防爆泄壓閥、超溫保護(hù)、缺水報(bào)警、門鎖聯(lián)鎖

主要功能及特點(diǎn)

• 非飽和控制技術(shù)：精準(zhǔn)控制蒸汽飽和度，避免凝露對(duì)樣品的物理?yè)p傷。

• 偏壓測(cè)試功能：可選配偏壓測(cè)試系統(tǒng)，在線監(jiān)測(cè)樣品在應(yīng)力下的電性能變化。

• 多段編程：支持100組程序，每組100段，滿足復(fù)雜測(cè)試需求。

• 數(shù)據(jù)追溯：標(biāo)配USB接口與RS485通訊，支持歷史數(shù)據(jù)導(dǎo)出與遠(yuǎn)程監(jiān)控。

應(yīng)用場(chǎng)景

• 半導(dǎo)體封裝廠新品研發(fā)階段的壽命評(píng)估

• PCB/PCBA行業(yè)可靠性驗(yàn)證與失效分析

• 高校材料實(shí)驗(yàn)室高分子材料吸濕與膨脹測(cè)試

• 第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)JEDEC標(biāo)準(zhǔn)符合性認(rèn)證

技術(shù)特點(diǎn)

• 防凝露結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)：獨(dú)特的蒸汽循環(huán)路徑，保證樣品表面干燥。

• 快速恢復(fù)系統(tǒng)：開門取放樣品后，溫濕度可在5分鐘內(nèi)恢復(fù)設(shè)定值。

• 安全冗余設(shè)計(jì)：機(jī)械式與電子式雙重超壓保護(hù)，確保長(zhǎng)期無(wú)人值守運(yùn)行。