電子元器件可靠性測試：高低溫試驗箱的典型應用場景分析

消費電子產品對體積與性能要求嚴苛，元器件密集布局易產生熱量堆積。高低溫試驗箱通過高溫高濕（如 85℃/85% RH）測試，加速評估芯片封裝材料的耐腐蝕性；低溫驟降（如從 25℃至 - 20℃的快速降溫）則可檢測焊點與電路板的熱應力耐受性，避免手機、筆記本電腦在環境下出現死機、脫焊等故障。